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涂層測(cè)厚儀測(cè)量誤差大的原因

日期:2024-09-18 23:20
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摘要:涂層測(cè)厚儀測(cè)量誤差大的原因: 很多原因會(huì)導(dǎo)致儀器并不準(zhǔn)確,涂層測(cè)厚儀,主要有以下幾個(gè)原因造成的不準(zhǔn)確的測(cè)量。 1、在系統(tǒng)中是正確的選擇合適的襯底。 矩陣*小的飛機(jī)7毫米,*小厚度為0.2 mm,低于臨界條件的測(cè)量是不可靠的。 2、附件上的效果。 涂層測(cè)厚儀對(duì)那些阻礙與密切接觸探針表面涂層的附著力。所以你必須去除粘附材料,確保探頭直接接觸涂層表面。當(dāng)進(jìn)行系統(tǒng)校正,襯底表面是光滑的選擇。 3、強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。 我們做了一個(gè)簡(jiǎn)單的實(shí)驗(yàn),當(dāng)儀器附近的電磁場(chǎng)約為10000 V,測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。 如果從電磁場(chǎng)的關(guān)系非常...
涂層測(cè)厚儀測(cè)量誤差大的原因:

很多原因會(huì)導(dǎo)致儀器并不準(zhǔn)確,涂層測(cè)厚儀,主要有以下幾個(gè)原因造成的不準(zhǔn)確的測(cè)量。
1、在系統(tǒng)中是正確的選擇合適的襯底。
矩陣*小的飛機(jī)7毫米,*小厚度為0.2 mm,低于臨界條件的測(cè)量是不可靠的。
2、附件上的效果。
涂層測(cè)厚儀對(duì)那些阻礙與密切接觸探針表面涂層的附著力。所以你必須去除粘附材料,確保探頭直接接觸涂層表面。當(dāng)進(jìn)行系統(tǒng)校正,襯底表面是光滑的選擇。
3、強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。
我們做了一個(gè)簡(jiǎn)單的實(shí)驗(yàn),當(dāng)儀器附近的電磁場(chǎng)約為10000 V,測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。
如果從電磁場(chǎng)的關(guān)系非常密切,崩潰現(xiàn)象的產(chǎn)生。
4、人的因素。
這種情況經(jīng)常發(fā)生在新用戶。超聲波探測(cè)器能夠測(cè)量到微米級(jí)別,因?yàn)樗梢园研〉拇磐ǖ淖兓?并把它變成數(shù)字信號(hào)。這個(gè)儀器的過程中使用儀器測(cè)量如果用戶不熟悉調(diào)查可能會(huì)偏離身體測(cè)試,通量變化測(cè)量錯(cuò)誤。建議用戶朋友**次使用這個(gè)工具,所以需要掌握的方法測(cè)量。放置探針測(cè)量中有很大的影響,測(cè)量探針和樣品表面應(yīng)保持垂直。和傳感器放置時(shí)間不宜太長(zhǎng),以免引起襯底本身磁場(chǎng)的干擾。

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